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GB/T 23413-2009 納米材料晶粒尺寸及微觀應變的測定 X射線衍射線寬化法

標準編號:GB/T 23413-2009
標準名稱:納米材料晶粒尺寸及微觀應變的測定 X射線衍射線寬化法
英文名稱:Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials - X-ray diffraction line broadening method
發布部門:中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位:鋼鐵研究總院、首鋼技術研究院
標準狀態:現行
發布日期:2009-04-01
實施日期:2009-12-01
標準格式:PDF
內容簡介
本標準規定了利用X射線衍射線寬化法來測定納米材料晶粒尺寸和微觀應變的方法。本標準采用的計算方法是近似函數法。
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